半导体分立器件可靠性测试设备的应用

1、前言

半导体分立器件可靠性测试设备是专门用于评估半导体分立器件在各种条件下的可靠性和稳定性的工具和系统。这些设备通过模拟器件在实际使用中可能遇到的各种环境和电应力情况，对器件进行一系列的测试和监测，以确定其是否能够在规定的时间内和特定的条件下正常工作。其主要分为环境应力测试类、电应力测试类、其他特殊测试设备。

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2. 2、温控仪表在半导体分立器件可靠性测试设备的应用

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   天津海瑞电子科技有限公司在半导体分立器件可靠性测试设备生产上主要用于测IGBT模块，IGBT模块是一种重要的功率半导体器件，所以在测试过程中对温度的要求较高，测试原理主要是通过电热-水冷板板给被测元件快速加热或冷却，从而使元件Tc瞬间上升或下降如此反复循环（详见图1）。

    

    

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   图1

    

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6. 3、宇电温控仪表帮助客户实现的价值

   半导体测试设备对温控器的要求高，且受当时芯片涨价，国外温控器断货的影响，客户前期选用的温控器控制效果都差强人意，客户辗转多次找到宇电，经过系列选型，敲定AI-8系列这款产品测试使用，测试效果良好，且宇电承诺不涨价，货期稳定。宇电产品能稳定使用在半导体行业，帮助客户提升生产效率、产品质量，保障生产过程的稳定性。

    

   4、客户对宇电的评价

   宇电的APID自整定自适应技术帮助客户大大缩短调试时间，控制效果好、售后响应时间短、供货期稳定，我们对宇电的品牌印象很好，会长期使用宇电产品。